| Сканирующая зондовая микроскопия | |
| АННОТАЦИЯ | |
| «Сканирующая зондовая микроскопия поверхности твердых тел и связанные с ней технологии» - это относительно недавно возникшее направление, развивающееся на основе фундаментальных понятий и представлений квантовой механики, физики твердого тела и физики поверхности. Поэтому этот предмет обеспечивает, прежде всего, фундаментальную и прикладную подготовку магистрантов специализации 501403 «Физика конденсированного состояния вещества». Изложение курса опирается на совокупность теоретических сведений о методах расчетов сил взаимодействия между атомами исследуемой поверхности и зонда. Кроме того, этот курс является введением в основы современных нанотехнологий и метрологии. Специалист в области физики по курсу «Сканирующая зондовая микроскопия поверхности твердых тел и связанные с ней технологии» имеет представления:о физических процессах, лежащих в основе работы сканирующих зондовых микроскопов: эффекте туннелирования микрочастиц через потенциальный барьер, Ван- дер Ваальсовом и капиллярном взаимодействии, пьезоэлектрическом эффекте и эффектах гистерезиса, ползучести, старении. о современном состоянии методик сканирующей зондовой микроскопии, их использовании для выявления фундаментальной роли поверхности в ряде процессов и явлений, таких как эпитаксиальный рост пленок, зарождение деформационных дефектов на поверхности нагруженных материалов и др. | |
| СТРУКТУРА КУРСА | |
| МОДУЛЬ 1. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии
МОДУЛЬ 2. Mетодики и режимы работы сканирующих зондовых микроскопов МОДУЛЬ 3. Детали устройства сканирующих зондовых микроскопов МОДУЛЬ 4. Зонды сканирующих зондовых микроскопов МОДУЛЬ 5. Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости твердых тел |
|
| КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА | |
| Артефакты изображений, атомный силовой микроскоп, атомные манипуляции, бесконтактный режим АСМ, сканер, гистерезис сканера, деконволюция, динамический режим АСМ, зонд, контактный режим АСМ, кривые подвода – отвода, латеральный силовой микроскоп, магнитный силовой микроскоп, микро-, нанометрология, микро термальный анализ, микроскопия фазового детектирования, ползучесть сканера, латеральное разрешение СЗМ , режим обстукивания | |
| Дисциплина (ы) , в которых используется данный курс |
Сканирующая зондовая микроскопия |
| ООП | 03.04.02 Физика/Физика конденсированного состояния |
| Уровень обучения | магистратура |
| Семестр | 3 |
| Количество часов (Всего / Аудиторные / СРС [кредиты]) |
108/40/68 [3] |
| Подразделение разработчик ЭОР | Институт - ФТИ Кафедра -ОФ |
| Разработчики ЭОР |
Кузнецов Павел Викторович, к.ф.-м.н, доцент кафедры Общей физики ФТИ |
| ИНФОРМАЦИЯ ДЛЯ СВЯЗИ С ПРЕПОДАВАТЕЛЕМ | |
|
Кузнецов Павел Викторович, E-mail:kuznetsovpv@tpu.ru |
|
|
Copyright ©2017. |
|
- Учитель: Решетникова Светлана Леонидовна