Сканирующая зондовая микроскопия
АННОТАЦИЯ
«Сканирующая зондовая микроскопия поверхности твердых тел и связанные с ней технологии» - это относительно недавно возникшее направление, развивающееся на основе фундаментальных понятий и представлений квантовой механики, физики твердого тела и физики поверхности. Поэтому этот предмет обеспечивает, прежде всего, фундаментальную и прикладную подготовку магистрантов специализации 501403 «Физика конденсированного состояния вещества». Изложение курса опирается на совокупность теоретических сведений о методах расчетов сил взаимодействия между атомами исследуемой поверхности и зонда. Кроме того, этот курс является введением в основы современных нанотехнологий и метрологии. Специалист в области физики по курсу «Сканирующая зондовая микроскопия поверхности твердых тел и связанные с ней технологии» имеет представления:о физических процессах, лежащих в основе работы сканирующих зондовых микроскопов: эффекте туннелирования микрочастиц через потенциальный барьер, Ван- дер Ваальсовом и капиллярном взаимодействии, пьезоэлектрическом эффекте и эффектах гистерезиса, ползучести, старении. о современном состоянии методик сканирующей зондовой микроскопии, их использовании для выявления фундаментальной роли поверхности в ряде процессов и явлений, таких как эпитаксиальный рост пленок, зарождение деформационных дефектов на поверхности нагруженных материалов и др.
СТРУКТУРА КУРСА
МОДУЛЬ 1. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии
МОДУЛЬ 2. Mетодики и режимы работы сканирующих зондовых микроскопов
МОДУЛЬ 3. Детали устройства сканирующих зондовых микроскопов
МОДУЛЬ 4. Зонды сканирующих зондовых микроскопов
МОДУЛЬ 5. Сканирующая зондовая микроскопия поверхностной шероховатости твердых тел
КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА
Артефакты изображений, атомный силовой микроскоп, атомные манипуляции, бесконтактный режим АСМ, сканер, гистерезис сканера, деконволюция, динамический режим АСМ, зонд, контактный режим АСМ, кривые подвода – отвода, латеральный силовой микроскоп, магнитный силовой микроскоп, микро-, нанометрология,  микро термальный анализ, микроскопия фазового детектирования, ползучесть сканера, латеральное разрешение СЗМ , режим обстукивания
Дисциплина (ы) ,
в которых используется данный курс
Сканирующая зондовая микроскопия

ООП 03.04.02 Физика/Физика конденсированного состояния
Уровень обучения магистратура
Семестр 3
Количество часов
(Всего / Аудиторные / СРС [кредиты])
108/40/68 [3]
Подразделение разработчик ЭОР Институт - ФТИ
Кафедра -ОФ
Разработчики ЭОР

Кузнецов Павел Викторовичк.ф.-м.н, доцент кафедры Общей физики ФТИ 

 
ИНФОРМАЦИЯ ДЛЯ СВЯЗИ С ПРЕПОДАВАТЕЛЕМ

Кузнецов Павел Викторович, E-mail:kuznetsovpv@tpu.ru

Copyright ©2017.
Tomsk Polytechnic University, All rights reserved.